仪器校准-仪器校准质优价廉

首先USP的zui小称量值是计算得出的，它是通过将精密度的2SD不超过0.10%倒推得出，即zui小称量值等于2000SD。但这样的数据我们就可以直接拿来作为日常精密称量的zui小称量值了吗？实际上这是很危险的。

大家知道，即使连续十次称量，其SD值也是有相当大的偶然性的，不信你可以试着连续称10个十次称量，看看SD值有没有变化。更何况在再确认中，一旦你的SD值增加，那么你过去很多称量的可信度就达不到要求。

所以比较稳妥的办法是你自己设定一个zui小称量值，也就是给它加了一个系数。当再确认仍符合要求时，你之间所有称量数据均符合规定的要求，也避免了因此而产生的调查，这有点像我在检验那回事之中说的定量限的做法。

7 USPzui小称量值所有天平都做吗？

有些天平甚至连检定、确认可能都不需要做，更不要说zui小称量值了。

其实zui小称量值严谨的名称应该叫做精密称定zui小称量值，因为这个结果就是从天平的精密度确认得出的，换句话说，如果等称量样品的重量小于zui小称量值的话，那么其精度就达不到要求（不考虑修约的话），也就是检验用样品的重量可能就达不到精密称定的要求，所以你等称量样品的重量就必须要超过zui小称量值。

那么从上面你就应该知道这个zui小称量值该用在哪里了，当然是实验室定量测定了，而且基本上是万分之一或更精密的天平。至于说生产，只需要使用合适准确性和精度的天平/秤就可以了。

8 日校必须天天做吗？

看起来叫做日校，那么日校就该日日校吗？

其实这也要根据你天平的关键性和使用频率而定，如果你的称量结果不影响产品质量，也不影响检验数据，那么何必要天天校！例如取样用天平、仓库交接用秤，重量差上一点儿又有什么关系，甚至该天平的偏离超出你的期望，你可能也不需要去调查；而对于有关键性数据或重要数据的天平，每天如果有几十个上百个称量，你不日校，一旦发现天平发生偏离且不可接受，那你就需要进行大量的调查和评估，所以如果你不是每天使用前日校你放心吗！

9 日校的可接受范围是多少？

这应该与你被称样物所要求的准确性有关，也就是天平偏离程度占样品重量的百分比。例如你十万分之 平，zui小称量值为40mg，如果你能够接受0.2%的偏离的话，那么可以接受的日校范围就是0.08mg；对于生产用0.01kg的电子秤，如果你API投料量5kg，可以接受1.0%偏离的话，那么可以接受的日校范围就是0.05kg。日校的可接受限度应帖粘在天平上。

虽然原则是这么算出来的，但我们往往会将标准缩小，以达到性的要求；而且大家也都知道，重量越高，漂移对天平的影响相对就越低，而且砝码的相对准确性也越高，所以理论上说天平的量程越高，日校标准的d值（zui小分度值）也可以设置得越低。

而实际工作中，我们为了控制风险，可以在日校中控制两个值，一个是限度值，超出后是要进行调查的；另一个可以是警戒限，其目的是为了避免超出限度。当天平日校时处于警戒限以内时，可以不做任何处理（要知道你称量本身也有不确定度的），当日校结果走出警戒限时，应当立即对天平进行校准，之后再重新进行日校（如果此时还有问题，那么说明你的天平/砝码/操作中出现了问题）。

10 日校要做几个点、各几次称量？

再次强调日校的目的不是考查准确性，而是考查天平是否发生了漂移，所以所谓多点的日校是没有意义的。理想状态下，就是砝码重量与测量值的函数呈一条斜率为1的直线，只不过是不经过原点，这个截距就是天平的漂移值，也就是线跑偏了。日校也不是做精密度，所以也没有必要做那么多次，但为了发现问题，三次称量是有必要的。

11 日校要做四角吗？

这部分工作在确认时作一般就可以了，除非有异常发生。相信不会有人在使用天平时，可着一个角“造”。

12 日校砝码的选择和砝码的计数？

日校砝码应选择合适精度的砝码，以确保其精度和不确定度不影响天平的日校。一般万分之一及更高精度的天平宜选择E2级砝码，千分之一到克级天平可选择F1到F2级砝码，生产系统可使用M级砝码。

砝码宜选择日常经常称量的重量，如果你一定要有个范围的话，可以使用日常的zui大和zui小重量。

而对于砝码是按标示值去计，还是按照检定值去计，可以说使用检定值一定是没有问题的，但在砝码zui大允许误差远小于日校范围时，则没有必要使用检定值了，标示值则更利于计算和判定。

13 日校和校准哪个在先？

有个错误的操作是，有人在做日校时，首先进行了校准。那么他的zui大问题是，他可能会掩盖了两次日校之间天平已经发生了偏离的可能性。所以正确的操作是，只有当系统发生了偏离，且这个偏离是你所不希望的（不是不可接受的），这时你就要做校准了，校准之后再重新做日校。